3月17日至21日,财政部会计资格评价中心党委书记、主任冯卫东一行出席在美国佛罗里达州奥兰多市(Orlando)召开的国际考试行业协会(Association of Test Publishers,缩写为ATP)第20届年会。
本届年会以“考试中的创新:挑战·变革·发展(Innovations in testing: Challenge.Transform.Evolve.)”
为主题,议题包括考试测评技术创新、考试安全与防范措施、考试信息分析与管理、人才评价与选拔、教育测量与心理学等内容,突出了考试测评行业在信息网络技术浪潮下所面临的变革与对策。来自全球考试主办方、考试技术与运营服务方、考试内容开发机构、心理与测评研究机构等30个国家和地区考试业界代表1,300余人参加了本届年会。
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